反射式膜厚儀對材料表面起保護，裝飾作用的覆蓋層，如涂層，鍍層，敷層，貼層，化學生成膜等，在一些國家和國際標準中稱為覆層。

　　覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確要求。

　　覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

　　反射式膜厚儀的使用注意事項：

　　1.零點校準

　　在每次使用膜厚儀之前需要進行光學校準，因為之前的測量參數(shù)會影響該次對物體的測量，零點校準可以消除前次測量有參數(shù)的影響，能夠降低測量的結果的誤差，使測量結果更加精確。

　　2.基體厚度不宜過薄

　　在使用反射式膜厚儀對物體進行測量時基體不宜過薄，否則會極大程度的影響儀器的測量精度，造成數(shù)據(jù)結果不準確，影響測量過程的正常進行。

　　3.物體表面粗糙程度

　　對于被測物體的表面不宜太過粗糙，因為粗糙的表面容易引起光的衍射，降低了光學測量儀的測量精度，造成很大的誤差。所以被測物體的表面應該盡量保持光滑，以保證測量結果的精確性。